SWIR (NIR) - Applikationen (Beispiele)
- Defekte in Silizium erkennen (Hohlräume, Brüche, Verunreinigungen) durch die hoch quanteneffizienten Detektoren von FLIR
- Bewertung von Lebensmitteln bei äußerlich intakter Hülle
- High-Speed-Applikationen an heißen Metallen
- astronomische Anwendungen
- Analyse von Feuerungsprozessen
- Bestimmung der Verluste von Lichtwellenleitern
- SWIR-Mikroskopie über c-mount-Anschluß
- Erkennung verborgener Strukturen unter Malereien oder Deckschichten
- Applikationen mit Notwendigkeit der Steuerung von Kontrast und Helligkeit im Bereich weniger Photonen
Analyse von Walzprozessen im Stahlwerk
- ultrakurze Belichtungszeiten sichern scharfe Bilder ohne Verzerrungen
- fernfokussierbare Optiken erlauben die Bildaufnahme aus sicherer Entfernung
- klare Sichtbarkeit von Details zur Beurteilung von Überwalzungen, Falzbildung und Rissen
- Temperaturmessung im Infrarotbild ab 400 °C
Analyse von kristallisierenden Schmelzen und Gläsern
- Erkennung von Glasverunreinigungen im Schmelzprozeß
- Erkennung verunreinigter Siliziumblöcke
- Temperatur- und Strahlungsdichtemessung durch Gläser hindurch
- spektrale transmittive Bewertung von Kristallen
- Temperaturmessung durch Glasschmelzen hindurch
- Visualisierung von Dichteunterschieden im Glas
- Analyse von Brennern für Glaswannen
- Analyse von Mehrphasenbrennern
- Analyse von konvektivem Transport in fluiden Medien
Elektroluminiszenzprüfung an PV-Zellen & PV-Modulen
Durch Anlagen eines elektrischen Feldes oder einer elektrischen Spannung wird ein Festkörper dazu angeregt, elektromagnetische Strahlung (Licht) zu emittieren.
Defekte in der Struktur und den Verbindungen werden sichtbar.
Die temperaturstabilierten und gekühlten NIR-Kameras von FLIR haben eine wesentlich höhere Detektivität als Standard-NIR-Kameras oder digitale Photografie mit "Night-Vision-Optiken".
Lebensmittelprüfung
Erkennung von geschädigten Früchten und Gemüsen bei unbeschädigter Außenhülle
Quelle: FLIR Systems Inc.
Überprüfung von Kunstwerken
Die Messung mit NIR zeigt verborgene Farbschichten, frühere Umarbeitungen oder Beschädigungen.
Quelle: FLIR Systems Inc.